王子计测超高位相差测量

王子计测超高位相差测量PAM-UHR100特点：  
①1nm宽测量范围  
②高重复精度±1nm  
③良好的可操作性  
④软件  
测定对象：  
位相差薄膜，塑料，偏振片  
光盘  
液晶组件  
磁带用胶片  
收缩薄膜  
其他一般用途胶片  
用途：  
光学功能胶片的研究开发，质量管理  
延伸胶片的定向评价(三维折射率，表面定向度)  
包装膜的热收缩、撕脱性等的评价  
液晶元件的双绞线波长色散特性评估  
光学器件的透射椭圆偏振光的评价  
王子计测超高位相差测量PAM-UHR100特点：  
①1nm宽测量范围  
②高重复精度±1nm  
③良好的可操作性  
④软件  
测定对象：  
位相差薄膜，塑料，偏振片  
光盘  
液晶组件  
磁带用胶片  
收缩薄膜  
其他一般用途胶片  
用途：  
光学功能胶片的研究开发，质量管理  
延伸胶片的定向评价(三维折射率，表面定向度)  
包装膜的热收缩、撕脱性等的评价  
液晶元件的双绞线波长色散特性评估  
光学器件的透射椭圆偏振光的评价  
本产品信息由上海首放电子科技有限公司整理发布，更多关于位相差测量的信息请访问： 
http://www.shofound.cn/Products-35214427.html 
https://www.chem17.com/st458787/erlist_2186023.html