巨力 OLED光谱分析系统

　　我公司推出OLED器件和钙钛矿LED发射角度光谱分析系统（OLED光谱分析仪）、载流子迁移率测量系统、电学性能评估系统以及软件模拟研发系统，为广大科研工作者和研发机构提供了有力的测试工具。
OLED光谱分析系统用于测量OLED、钙钛矿LED及其其他发光器件的发射光谱特性和极化角，同事也可测量器件的s和p偏振光谱、发射光谱与角度的关系，计算出发射层中激子的发光角度及位置分布。
产品名称：OLED/LED电致发光/光致发光测量系统，EL/PL测量系统，多角度光谱测量系统，发光效率测量系统，发光光谱测量系统，外量子效率测量系统。
技术优势：
角度依赖的PL光致发光谱分析
角度依赖的EL电致发光谱分析
角度依赖的发光分析
兼容顶发光和底发光结构的OLED的及其他发光器件
p- and s-偏振态检测
偏振角度连续扫描
发光层中发光偶极子检测及偶极子趋向分析
兼容各种几何尺寸样品
样品便捷对准
可与Setfos结合，对发光层进行分析
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https://www.chem17.com/st454219/erlist_2162674.html